Electrical percolation threshold evaluation of silver thin films for multilayer WO3/Ag/WO3 transparent conductive oxide

dc.coverage.spatial	Generación de conocimiento
dc.creator	FRANCISCO RAMON PEÑUÑURI ANGUIANO
dc.date	info:eu-repo/date/embargoEnd/2099-12-31
dc.date	2019-11-05
dc.date.accessioned	2021-06-22T17:51:30Z
dc.date.available	2021-06-22T17:51:30Z
dc.identifier	https://doi.org/10.1016/j.matlet.2019.126913
dc.identifier.uri	http://redi.uady.mx:8080/handle/123456789/5689
dc.language
dc.publisher	Materials Letters
dc.relation	citation:0
dc.rights	info:eu-repo/semantics/embargoedAccess
dc.source	urn:issn:0167-577x
dc.subject	info:eu-repo/classification/cti/7
dc.subject	INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA
dc.title	Electrical percolation threshold evaluation of silver thin films for multilayer WO3/Ag/WO3 transparent conductive oxide
dc.type	info:eu-repo/semantics/article

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